臻邁電子 日立鍍層分析儀X-Strata920
我們的鍍層測(cè)厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù)，該技術(shù)已被普遍認(rèn)可并且得到廣泛應(yīng)用，可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析，可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。

優(yōu)化的微聚焦硬件和直觀的用戶界面，簡化了常規(guī)分析，提高了產(chǎn)出，使用“一鍵式”操作可確保簡單的培訓(xùn)就能同專業(yè)技術(shù)人員得到一樣的結(jié)果。用戶能容易地理解X熒光光譜，獲得定制的校準(zhǔn)和探索未知的材料。
 

鐳射用于自動(dòng)定位X射線光管/檢測(cè)器與被測(cè)樣品到較佳測(cè)試距離。

“一鍵操作”將測(cè)試頭移動(dòng)到zui佳位置，同時(shí)將樣品圖像定焦（顯示在屏幕上）。

自動(dòng)而簡單的操作提高儀器測(cè)試的再現(xiàn)性，并將人為測(cè)量誤差降到zui低。

注：較佳測(cè)試距離為12.7mm (0.5”)，由X射線測(cè)試頭自動(dòng)調(diào)節(jié)高度（Z軸）。

開槽式樣品倉結(jié)合電機(jī)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)，可測(cè)量各種尺寸樣品，包括小元件和大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的印制線路板。所有樣品可以很方便地用程控XY平臺(tái)放置并快速定位到樣品上的各個(gè)待測(cè)點(diǎn)進(jìn)行分析。

經(jīng)過簡單易學(xué)的指導(dǎo)，用戶即可通過編程完成自動(dòng)測(cè)量，實(shí)現(xiàn)zui大的樣品測(cè)試量和無人操作的測(cè)試。

使用鼠標(biāo)控制，可以方便地放置被測(cè)樣品/零件，并且定位到測(cè)試點(diǎn)。

樣品放置方便

Z軸自動(dòng)控制（Z向行程：43mm/1.7”）

樣品定位方便
樣品臺(tái)尺寸：560mm (22") 深 x 610mm (24") 寬

XY向行程：178mm (7")  x 178mm (7")

zui大樣品高度33mm (1.3”)。

臻邁電子 日立鍍層分析儀X-Strata920