- 產(chǎn)品目錄
- 品牌分類
聯(lián)系人:顏小姐
電話:138 0228 4651
手機(jī):13802284651
郵件:rohsxrf@126.com
聯(lián)系時,請告知信息來自給覽網(wǎng)
會員站:http://www.china-skyray.com
手機(jī)站:http://m.china-skyray.com
金屬鍍層厚度分析儀作原理
發(fā)布時間:2023-06-08瀏覽次數(shù):1093返回列表
X射線光譜方法測定金屬鍍層厚度是基于束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射,這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量(若密度已知,則為覆蓋層線性厚度)和二次輻射強(qiáng)度之間存在定的關(guān)系。該關(guān)系由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知,同時又給出實際的密度,則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度。
金屬鍍層厚度分析儀是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測術(shù)和經(jīng)驗,以特的產(chǎn)品配置、能齊的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要,人性化的設(shè)計,使測試作加輕松成。


