產(chǎn)品簡介
X射線顯微鏡相對(duì)于傳統(tǒng)X射線檢測系統(tǒng)具有兩個(gè)獨(dú)特優(yōu)勢：一是通過相位襯度可以檢測出原子序數(shù)相近的材料；二是CT分辨率相較傳統(tǒng)CT高很多，可以對(duì)樣品進(jìn)行非破壞性高分辨率三維檢測
公司簡介
北京拓普升科技有限公司由技術(shù)扎實(shí)、經(jīng)驗(yàn)豐富的電子
展開
產(chǎn)品說明
Xradia 510 Versa 擁有高達(dá) 0.7 μm 的真實(shí)空間分辨率，
體素大小低至 70 nm ，將接近同步輻射技術(shù)水平的成
像性能擴(kuò)展到了世界各地的重要實(shí)驗(yàn)室。結(jié)合先進(jìn)的吸
收襯度技術(shù)和適用于軟材料或低原子序數(shù)材料的創(chuàng)新相
位襯度技術(shù)，Xradia 510 Versa 的通用性得到提升，以
至能夠突破傳統(tǒng)計(jì)算機(jī)斷層掃描方法的局限性。
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