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OPA 光功率熱分析儀

武漢嘉儀通科技有限公司

會(huì)員指數(shù)：

企業(yè)認(rèn)證：

價(jià)格：電議

所在地：湖北武漢市

型號(hào)：OPA

更新時(shí)間：2018-08-14

瀏覽次數(shù)：1020

公司地址：湖北省武漢市高新大道999號(hào)未來(lái)科技城C4棟

18972908566 王珮鑫(女士)

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

光功率熱分析儀是臺(tái)納米級(jí)薄膜材料物性分析儀，填補(bǔ)了對(duì)納米級(jí)薄膜材料無(wú)損檢測(cè)其相變溫度和熱膨脹系數(shù)的技術(shù)空白！不僅可用于檢測(cè)塊體，還可檢測(cè)低至1nm的薄膜材料。根據(jù)材料相變前后光學(xué)性質(zhì)（反射光功率）有較大差異的特性檢測(cè)材料的相變溫度，依據(jù)光干涉原理檢測(cè)透光材料的熱膨脹系數(shù)，融合了相變溫度分析儀

公司簡(jiǎn)介

武漢嘉儀通科技有限公司是以薄膜物性檢測(cè)作為戰(zhàn)略定位，技術(shù)領(lǐng)先的中國(guó)高科技企業(yè)。公司集研發(fā)、市場(chǎng)和技術(shù)服務(wù)于一體，相繼被評(píng)為湖北省“百人計(jì)劃”及武漢市政府“城市合伙人”企業(yè)。公司成立于2009年，總部位于中國(guó)光谷，專注于薄膜材料物理性能分析與檢測(cè)儀器的自主研發(fā)，并致力于為客戶提供薄膜材料的熱學(xué)和電學(xué)性能測(cè)試分析整體解決方案。

展開(kāi)

產(chǎn)品說(shuō)明

光功率熱分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)

嘉儀通科技研發(fā)的OPA是臺(tái)納米級(jí)薄膜材料物性分析儀，填補(bǔ)了對(duì)納米級(jí)薄膜材料無(wú)損檢測(cè)其相變溫度和熱膨脹系數(shù)的技術(shù)空白！OPA不僅可用于檢測(cè)塊體，還可檢測(cè)低至1nm的薄膜材料。

OPA根據(jù)材料相變前后光學(xué)性質(zhì)（反射光功率）有較大差異的特性檢測(cè)材料的相變溫度，依據(jù)光干涉原理檢測(cè)透光材料的熱膨脹系數(shù)，融合了相變溫度分析儀和熱膨脹系數(shù)分析儀的兩項(xiàng)功能。

OPA可同時(shí)檢測(cè)材料的相變溫度和熱膨脹系數(shù)兩項(xiàng)熱力學(xué)參數(shù)，且進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，保證樣品不被破壞，節(jié)約成本。

OPA具有知識(shí)產(chǎn)權(quán)，獲得多項(xiàng)技術(shù)！

光功率熱分析儀應(yīng)用功能

● 各種材料相變溫度（融化、軟化、晶化等）的實(shí)時(shí)測(cè)定

● 材料（相變材料、相變儲(chǔ)能材料）的穩(wěn)定性測(cè)試及性能優(yōu)化

● 強(qiáng)誘導(dǎo)體薄膜的結(jié)晶化退火

● 注入離子后的擴(kuò)散退火

● 半導(dǎo)體材料的燒成與退火條件研究

● 玻璃基板的均熱退火

● 熱循環(huán)試驗(yàn)與熱沖擊試驗(yàn)

● 升溫脫離試驗(yàn)與觸媒試驗(yàn)

PCA、TEA、OPA 可應(yīng)用于以下材料：

● NiAl復(fù)合薄膜

● 氧化釩薄膜

● PZT鐵電材料

● MgO/Ni-Mn-Ga薄膜

● GST相變存儲(chǔ)薄膜

● 金屬Co薄膜

● Al2O3薄膜

● iN薄膜

● GeTe薄膜

● ZrO2薄膜

● 摻Ti的ZnSb薄膜

● SiC薄膜

● 顯示屏玻璃

● 變記憶合金薄膜

樣品滿足以下要求：

● 尺寸：長(zhǎng)x寬（5-20）x（5-20） ,單位mm

● 厚度 2.0mm（含基底）以下為宜

● 變溫度測(cè)試樣品，具備光學(xué)反射平面

● 熱膨脹系數(shù)測(cè)試樣品，具備光學(xué)反射雙平面

● 適用于透光材料的熱膨脹系數(shù)檢測(cè)

● 熱膨脹檢測(cè)樣品的熱膨脹量≥266nm

光功率熱分析儀應(yīng)用實(shí)例

● 紅外材料	● 復(fù)合材料

圖1：VO2不同升溫速率12℃/min、15℃/min 對(duì)比圖（四川大學(xué)提供樣品）	圖2：鋁鎳合金復(fù)合薄膜（西南科技大學(xué)提供樣品）
● 相變存儲(chǔ)材料	● 熱電薄膜材料

圖3：相變存儲(chǔ)材料圖（中科院微系統(tǒng)所提供樣品）	圖4：熱電轉(zhuǎn)換薄膜材料（摻Ti的ZnSb）（深圳大學(xué)提供樣品）
● 氧化鋯薄膜

圖5：ZrO2薄膜（清華大學(xué)提供樣品）	氧化鋯薄膜與XRD對(duì)比圖
● 高溫陶瓷材料	● 硬質(zhì)合金薄膜材料

圖6：高溫陶瓷材料（TiN薄膜硅基底）（海南大學(xué)提供樣品）	圖7：切削刀具相變監(jiān)測(cè)曲線（武漢大學(xué)提供樣品）
● SiC薄膜	● 顯示屏玻

SiC薄膜熱膨脹系數(shù)監(jiān)測(cè)曲線（電子科技集團(tuán)第五十五研究所提供樣品）	顯示屏玻璃熱膨脹系數(shù)監(jiān)測(cè)曲線（武漢天馬提供樣品）

光功率熱分析儀技術(shù)參數(shù)

型號(hào)	OPA-300	OPA-1200	OPA-1800
溫度范圍	RT~300℃	RT~1200℃	RT~1800℃
程序升溫重復(fù)性偏差	＜1.0%
程序升溫速率偏差	＜1.0%
相變溫度測(cè)量度偏差	＜3%
相變溫度測(cè)量正確度偏差	＜3%
熱膨脹系數(shù)測(cè)量度偏差	＜4.5%
熱膨脹系數(shù)測(cè)量正確度偏差	＜±15%
zui大工作功率	4.0kw
zui大升溫速度	50℃/s（50℃~1200℃、真空氛圍），45℃/s℃/（50℃~1200℃，N?氛圍）
溫度一致性	±2.0℃（1200℃，真空），±4.5℃（1200℃，N?）
制冷要求	水冷
相變薄膜材料檢測(cè)厚度下限	1.0×10-9m
熱膨脹分辨率	266nm
主機(jī)尺寸	650 x 790 x 1350，單位mm
重量	92.3kg

光功率熱分析儀樣品要求

●尺寸：長(zhǎng)×寬 5x5~20x20，單位mm，厚度2.0mm（含基底）以下為宜

●相變溫度測(cè)試樣品，具備光學(xué)反射平面

●熱膨脹系數(shù)測(cè)試樣品，具備光學(xué)反射雙平面，適用于透光材料的熱膨脹系數(shù)檢測(cè)

●檢測(cè)樣品的熱膨脹量≥266nm

●薄膜可選擇適當(dāng)基底，建議用20mmx20mmx1.5mm石英玻璃或硅片

本頁(yè)產(chǎn)品地址：http://mingjiewl.com/sell/show-8208389.html

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