ZT-4C鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)

ZT-4C 鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)

關(guān)鍵詞:鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀,鐵電材料測(cè)試儀,鐵電測(cè)試儀 

前言：鐵電材料具有良好的鐵電性、壓電性、熱釋電性以及非線性光學(xué)等特性, 是當(dāng)前高新技術(shù)材料中非?；钴S的研究領(lǐng)域之一，其研究熱點(diǎn)正向?qū)嵱没l(fā)展。 

背景：高性能的鐵電材料是一類具有廣泛應(yīng)用前景的功能材料,從目前的研究現(xiàn)狀來(lái)看,對(duì)于具有高性能的鐵電材料的研究和開(kāi)發(fā)應(yīng)用仍然處于發(fā)展階段.研究者們選用不同的鐵電材料進(jìn)行研究,并不斷探索制備工藝,只是到目前為止對(duì)于鐵電材料的一些性能的研究還沒(méi)有達(dá)到令人滿意的地步.比如,用于制備鐵電復(fù)合材料的陶瓷粉體和聚合物的種類還很單一,對(duì)其復(fù)合界面的理論研究也剛剛開(kāi)始,鐵電記憶器件抗疲勞特性的研究還有待發(fā)展。 

一、產(chǎn)品介紹： 

ZT-4C型鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)是新一代鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測(cè)量，可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及開(kāi)關(guān)特性，可地測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值?？蓽y(cè)鐵電體材料的電滯回線及I—V特性。 

主要技術(shù)指標(biāo)：
1.輸出信號(hào)電壓：薄膜：0～±10V ,精度：±1mV;陶瓷材料：0～±2200V,精度：±1V。
2.輸出信號(hào)頻率：薄膜材料0～2kHz,精度：±1Hz;壓電陶瓷：1HZ, 精度：±0.01Hz。
3.電容范圍：1000nf～ 100nf, 精度: ≤1%。
4.電流范圍: 1nA～10A ,精度: ≤1%。
5.測(cè)試用信號(hào)源：計(jì)算機(jī)控制正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波。
6.電流放大器：計(jì)算機(jī)控制，1、2、5倍。
7.信號(hào)放大器：計(jì)算機(jī)控制，1、2、5、10、15倍。
8.疲勞性能測(cè)量次數(shù)范圍：1～99999次。
9.保持性能測(cè)試時(shí)間范圍：1秒～99999秒, 精度: ≤0.1%。
10.數(shù)據(jù)結(jié)口：USB或BNC接口。
11. 計(jì)算機(jī)：500G/2G/DVD/19寸液晶顯示器，win7系統(tǒng)。
12. 數(shù)據(jù)采集分析軟件：win7系統(tǒng); 能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線，定量得到鐵電薄膜材料的飽和化Ps、剩余化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數(shù);可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試，電阻測(cè)量，漏電流測(cè)量。