產(chǎn)品簡(jiǎn)介
M12M EEL 不透明度儀＊＊ 聯(lián)合印刷、包裝、及相關(guān)行業(yè)研究機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì) ＊＊應(yīng)用：涂料
公司簡(jiǎn)介
北京丹貝爾儀器有限公司是眾多國外著名制漿造紙、包裝印刷質(zhì)量檢測(cè)儀器制造商在中國的獨(dú)家代理。 所代理儀器主要有： 1．制漿造紙類： 美國TMI/MESSMER/BUCHEL公司的印刷表面粗糙度儀、別克平滑度儀、層間結(jié)合強(qiáng)度儀、耐破度儀、撕裂度儀、環(huán)壓強(qiáng)度儀、挺度儀、PFI盤磨、纖維篩分儀、標(biāo)準(zhǔn)紙頁成型器及配套設(shè)備，美國Adirondack公司的浮選脫墨槽、高濃碎漿機(jī)，美國DATACOLOR公司白度儀，加拿大OPTEST公司纖維質(zhì)量分析儀、塵埃勻度儀，芬蘭ACA公司超高剪切粘度計(jì)(附帶動(dòng)態(tài)涂料保水度測(cè)試附件)、新型在線透氣度測(cè)試儀，芬蘭AMBERTEC公司的β射線勻度儀，德國ESTANIT公司快速凱塞法紙頁成型器，德國EMCO公司卷煙紙螺紋測(cè)試儀、動(dòng)態(tài)滲透性測(cè)試儀等等。 廣泛應(yīng)用于白板紙、白卡紙、復(fù)印紙、銅版紙、書寫紙、高級(jí)紙袋紙、LWC、新聞紙、紙巾紙、瓦楞紙、卷煙紙及各種特種紙的漿料、涂料、成紙、原紙、脫墨漿的物理檢測(cè)。 主要用戶有：APP集團(tuán)、UPM、蘇州紫興、山東晨鳴紙業(yè)集團(tuán)、山東太陽紙業(yè)、山東華泰紙業(yè)、福建南平紙業(yè)等各大造紙廠，研究院(所)、重點(diǎn)院校、各大出入境檢驗(yàn)檢疫局、各大鈔票紙廠等等。 2．包裝印刷類： 美國MOCON(膜康)公司透氧儀(氧氣透過率測(cè)試儀)、透濕儀(水蒸氣透過率測(cè)試儀)、密封性/破裂性檢測(cè)儀、頂空分析儀(氧氣/二氧化炭濃度測(cè)試儀)等，美國TMI公司磨擦系數(shù)儀、剝離試驗(yàn)機(jī)、油墨磨擦儀、拉雷粘度計(jì)等，德國BRUGGER公司的熱封儀，英國DIFFUSSION的霧度計(jì)、不透明度儀等，德國REA公司條碼質(zhì)量檢測(cè)儀，英國RK的各式打樣機(jī)、涂布機(jī)等先進(jìn)包裝印刷質(zhì)量檢測(cè)儀器。 廣泛應(yīng)用于高分子材料檢測(cè)、軟包裝檢測(cè)、藥包材檢測(cè)、食品包裝檢測(cè)、薄膜檢測(cè)、日化包裝、煙草包裝、乳品包裝，電子產(chǎn)品、生命科學(xué)等。儀器用于對(duì)紙、紙板、塑料、薄膜、鋁箔、標(biāo)簽、膠片、膠帶、膠粘劑、涂料、油墨等產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)。 主要客戶有：GE、寶潔、雀巢、杜邦、汽巴精化、巴斯夫等跨國公司；河北寶碩，江陰申達(dá)等龍頭企業(yè)；各大高校以及全國各地省市藥檢所，質(zhì)檢所等等。 DANBELL以滿足客戶要求為己任，提供產(chǎn)品咨詢，項(xiàng)目策劃，技術(shù)培訓(xùn)等服務(wù)，并擁有完善的售后服務(wù)體系
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產(chǎn)品說明
M12M EEL 不透明度儀 ＊＊ 聯(lián)合印刷、包裝、及相關(guān)行業(yè)研究機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì) ＊＊
應(yīng)用：
測(cè)試范圍：
不透明度：(紙張、塑料或類似材料)在襯黑底(如：M12M不透明度儀的黑色蓋子)的情況下測(cè)量白色材料(如參考白板)的漫反射率。 遮蓋力：(油漆或涂料)在黑白襯底上測(cè)量得的漫反射比率。油漆可涂在有黑白格的卡片上，涂料可涂在聚酯箔(或薄膜)上。 對(duì)比度：相似顏色的漫反射比例差。 透過不透明度：總穿透量(包括漫射和常規(guī)反射)，比如：總穿透量對(duì)入射光量的比；也可用M57D霧度計(jì)進(jìn)行測(cè)量。 操作： 先校準(zhǔn)：將樣品和參考標(biāo)準(zhǔn)放在積分球上的測(cè)試孔上，將讀數(shù)設(shè)置為100.0。然后單獨(dú)取樣品放在測(cè)試孔上進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量時(shí)樣品襯黑(黑色蓋子)，從樣品反射的光線在積分球中集中。顯示屏上的讀數(shù)即為測(cè)試結(jié)果，單位為百分比。不透明度的結(jié)果與顏色無關(guān)。同理，材料的亮度可以通過標(biāo)準(zhǔn)白板進(jìn)行測(cè)量。
應(yīng)用方法: 不透明度、遮蓋力、對(duì)比度、亮度
規(guī)格：
光學(xué)幾何條件: 0度漫反射，A光源或C光源 鎢絲燈，探測(cè)器CIE photopic 樣品孔: 直徑25mm 測(cè)試范圍: 直徑19mm 重復(fù)性: 0.1 單位 再現(xiàn)性: 0.2 單位 預(yù)熱時(shí)間: 1 分鐘 零點(diǎn)漂移: 無 全量程漂移: 5分鐘內(nèi)小于 0.1 單位 操作溫度: 5-50 攝氏度 溯源性: 英國國家標(biāo)準(zhǔn) NPL 電子部分: 自動(dòng)校準(zhǔn)微處理器 RS 232 串口輸出(選項(xiàng)) 電源: 110-230 VAC 50/60 HZ 尺寸：
尺寸: 11cm x18cm x 21cm 重量: 2.5kg 裝運(yùn)重量: 4kg 裝運(yùn)尺寸: 0.3 x 0.3 x 0.4m 本頁產(chǎn)品地址：http://mingjiewl.com/sell/show-148399.html
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