艾爾發(fā)成立于2005年4月，是一家集儀器銷售、計量服務(wù)、非標檢具、智能測控、在線質(zhì)量檢測控制的一站式服務(wù)公司。艾爾發(fā)整合各類資源結(jié)合自有專業(yè)技術(shù)，為制造企業(yè)的質(zhì)量控制提供全套解決方案。

專業(yè)支持：
公司擁有一支專業(yè)的研發(fā)團隊，研發(fā)了一系列具有自主知識產(chǎn)權(quán)的高端標準儀器以及溯源用標準器具，同時可為用戶提供完善的系統(tǒng)集成服務(wù)。

經(jīng)營理念：
提償以人為本、以用戶為中心、以市場為導向、以科技為基礎(chǔ)，為制造業(yè)的質(zhì)量提升和工業(yè)計量領(lǐng)域智能轉(zhuǎn)化賦能。

Verifire? MST 激光干涉儀提供了一個前所未有的嶄新的測量方式和能力，傳統(tǒng)的激光干涉儀應(yīng)用是測量兩個面的波前變化，也就是說測量一個 由兩個面所形成的腔。

但是，如果所測量的是一個沒有經(jīng)過鍍膜的平行平板，則就會產(chǎn)生兩個疊加的干涉條紋（三個面的腔所形成），這樣就會干擾標準的位相干涉測量分析。

現(xiàn)在，ZYGO的Verifire? MST 激光干涉儀解決了這一個問題，通過波長調(diào)制技術(shù)和ZYGO新的傅立葉變換方法，可以進行三個甚至四個平行面的測量，不僅可以顯示所有的面，并且可以排除其他的面而單獨顯示你所需要的面。

三平面干涉測量

Verifire? MST 激光干涉儀可以在你的測量中，只要一次數(shù)據(jù)采集，就可以得到平行平板前表面和后表面的平面度，同時還能得到平行平板的光學厚度：

? 前表面形貌圖

? 光學厚度變化

? 物理厚度變化和后表面形變

四表面干涉測量

這一技術(shù)能夠通過兩次數(shù)據(jù)采集得到下列結(jié)果：

? 前表面和后表面的形貌圖

? 物理厚度變化

? 光學厚度變化

? 折射率變化
- 非線性材料均勻性
- 線性材料均勻性

多表面樣品測量快速、簡單和質(zhì)量提升

同時測量表面形變和光學厚度變化

平行平板兩側(cè)測量就可以得到其均勻性：

? 不需要涂油就可以進行安全、快速測量

? 兩次測量不需要進行調(diào)整

的線性材料均勻性測量

快速測量，只需要幾分鐘而不是幾個小時

ZYGO has solved this problem using wavelength shifting of phase, and ZYGO's patented Fourier Transform Phase Shifting Interferometry (FTPSI).

The Verifire? MST can measure two-surface, three- and even four-surface cavities.

Show all of the surfaces, or only the surfaces of interest, all within ZYGO'sMx? software. Artifacts are naturally suppressed using FTPSI, eliminating the need for an extended source.