可見分光光度計7230G、723PC產(chǎn)品適用于對可見光譜區(qū)域內物質的含量進行定量分析，可廣泛應用于工廠、學校、冶金、農(nóng)業(yè)、食品、生化、環(huán)保、石油化工、醫(yī)療衛(wèi)生等單位的基礎實驗室。

杭州聚同電子有限公司（Hangzhou Jtone Electronic Co.Ltd.）是一家集生產(chǎn)、研發(fā)、銷售及售后為一體的專業(yè)實驗儀器設備企業(yè)。主要生產(chǎn)有：低溫恒溫儀器、超聲波儀器、箱體類儀器、樣品處理前儀器、制冰制冷儀器、實驗室用配套用儀器等產(chǎn)品。銷售網(wǎng)絡遍及全國各地，產(chǎn)品出口遠銷 國外，深受廣大客戶的青睞和一致好評，是科研院校首選配套生產(chǎn)基地。
公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)與技術團隊，一貫以快速回應客戶的咨詢及提供優(yōu)質的交貨服務為基礎，為客戶提供與應用需求緊密結合的解決方案，從而降低客戶的開發(fā)與應用成本。在此基礎之上，聚同人更以精益求精的理念，更卓越的品質，優(yōu)惠的價格，來繼續(xù)完善高端儀器的國產(chǎn)化工作。公司成立至今，致力于為客戶提供優(yōu)質化的服務和高品質的產(chǎn)品，技術到銷售都是由行業(yè)內精英組成，有著十幾年的行業(yè)經(jīng)驗。為產(chǎn)品的質量售后服務提供堅強后盾。
聚同擁有兩大儀器制造基地，總部坐落于舉世聞名的錢塘江下游北岸，國家級開發(fā)區(qū)--杭州經(jīng)濟技術開發(fā)區(qū)，是一家多元化產(chǎn)權結構創(chuàng)建的高新技術企業(yè)，分工廠設在上海松江。為立足于市場，樹立屬于自己的品牌，公司不斷深入于產(chǎn)品的技術開發(fā)和研究，完全執(zhí)行ISO9001質量管理體系，高標準，高要求，整合客戶結構，擴大生產(chǎn)規(guī)模，使我們的管理水平、質量水平達到一個高水準，持續(xù)超越客戶期望，更好的為客戶提供生產(chǎn)和服務，逐步走上品牌之路！
聚同將始終堅持對自己負責、對企業(yè)負責、對客戶負責的經(jīng)營態(tài)度，嚴格執(zhí)行客戶第一，質量為上的質量方針期待與您雙贏的合作，聚同人將以最優(yōu)質的產(chǎn)品，最真誠的態(tài)度竭誠為您服務！

供應7230G可見分光光度計價格

產(chǎn)品說明：自動波長：可見分光光度計

 

7230G可見分光光度計產(chǎn)品說明:

可見分光光度計7230G、723PC產(chǎn)品適用于對可見光譜區(qū)域內物質的含量進行定量分析，可廣泛應用于工廠、學校、冶金、農(nóng)業(yè)、食品、生化、環(huán)保、石油化工、醫(yī)療衛(wèi)生等單位的基礎實驗室。

 

7230G可見分光光度計主要特征:

1. 可見分光光度計自動波長，鍵盤輸入，波長設定和轉換更快速。

2.一階過零、一階線性標準曲線測試，多可建立12個標樣點的標準曲線。

3.標定曲線擬合度，濃度結果直接顯示，可保存50條曲線參數(shù)。

4.濃度因子設定和濃度設定的濃度直讀功能，可保存200條測試記錄。

5.可見分光光度計系統(tǒng)時鐘管理，暗電流校正，波長校正，USB數(shù)據(jù)接口。

6.UV-Solution 2.0工作站軟件，具有各種測試、掃描功能(723PC)。

 

7230G可見分光光度計技術參數(shù):

型號	7230G	723PC
帶寬	4nm	2nm
波長范圍	325～1100nm(步進間隔0.1nm)
波長準確度	±1.0nm(開機自動校準)
波長重復性	0.5nm
測定范圍	T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999
透射比準確度	±0.5%T
透射比重復性	±0.2%T
雜散光	≤0.3%T(在360nm處)	≤0.2%T(在360nm處)
穩(wěn)定性/基線漂移	±0.003A/h	±0.002A/h
基線直線性	/	±0.004A
顯示器	128×64大屏幕液晶顯示
外形尺寸	455*430*220(mm)

 

軟件型號	適用儀器	軟件功能
UV-Solution 1.0	7230G	定量測試、吸光度監(jiān)視等功能
UV-Solution 2.0	723PC	定量測試：可進行一、二、三階擬合標準曲線測試，多可通過20個標樣建立標準曲線?？蛇x擇單波長，雙波長或三波長條件下測試。 動力學測試：對樣品進行時間掃描，測試時間可達7天。采樣時間0.5、1、2、5、10、30、60秒可選，可保存10000條測試數(shù)據(jù)。 波長掃描：在任意波長范圍內以0.1、0.2、0.5、1、2、5nm的掃描間隔對樣品進行掃描，并對圖譜進行縮放、平滑、四則運算、坐標調整、峰/谷自動檢測、1~4階導數(shù)等數(shù)據(jù)處理，可容納八個掃描圖譜。 多波長測試：多可設置15個測試波長點。 數(shù)據(jù)導出：數(shù)據(jù)和圖譜可導出為txt和bmp格式文件供用戶編輯。

 

 

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