D-30放射性測(cè)量?jī)x就弱放射性a樣品進(jìn)行測(cè)量與分析，被測(cè)樣品可以是電沉積樣品，也可以直接鋪樣。所采用的分析儀器探頭靈敏區(qū)為f30mm金硅面壘半導(dǎo)體探測(cè)器，抗干擾屏蔽，本底低，功耗小。廣泛服務(wù)于用于地質(zhì)調(diào)查、放射性勘探、檢驗(yàn)樣品的分析地質(zhì)、醫(yī)院、防疫站、環(huán)境監(jiān)測(cè)站、工廠的水質(zhì)、食品等檢驗(yàn)其樣品的總a放射性活度，弱放射性測(cè)量?jī)x主要技術(shù)功能：

l         探測(cè)器：金硅面壘f30 mm，儀器本底：≤5cph

l         探測(cè)效率：≥36%（2π,239Pu源）

l         計(jì)數(shù)容量：99999999，顯示單位: Bq (貝克勒爾)

l         定時(shí)測(cè)量：定時(shí)時(shí)間在1—120min內(nèi)可選擇設(shè)置

l         供電電源：6v蓄電池，充電一次可工作24小時(shí)

l         測(cè)量范圍：含量≤30000Ur

l         照射量率≤5000nC•kg-1•h-1

l         靈敏度：含量≥5•s-1/Ur

l         能量閾：40keV

l         非線性：≤5%

l         穩(wěn)定性：≤5%

l         準(zhǔn)確性：γ測(cè)量準(zhǔn)確度≤±5％

l         定位準(zhǔn)確度 ≤ 10m

l         功 耗：: ≤200mW ； ≤600mW (加GPS)

l         使用條件：溫度 -5℃?50℃ ； 濕度 ≤95%（40℃）