儀器介紹

Thick 8000鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而心設(shè)計的款端儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。
自動X射線熒光鍍層厚度分析儀

儀器配置

1 硬件：主機壹臺，含下列主要件：

(1) X光管 (2) 半導(dǎo)體探測器

(3) 放大電路 (4) 樣品移動平臺

(5) 清晰攝像頭 (6) 壓系統(tǒng)

(7) 上照、開放式樣品腔 (8）雙激光定位

(9) 玻璃屏蔽罩

2 軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0

3 計算機、打印機各臺

計算機（，P4，液晶顯示屏）、打印機（佳能，彩色噴墨打印機）

4 資料：使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各份。

自動X射線熒光鍍層厚度分析儀

參數(shù)規(guī)格

1．分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）；
2.同時檢測元素：多24個元素，多達5層鍍層；
3.分析含量：般為2ppm到99.9%；
4.鍍層厚度：般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）；
5.SDD探測器：分辨率低至135eV；
6.的微孔準直術(shù)：zui小孔徑達0.1mm,zui小光斑達0.1mm；
7.樣品觀察：配備景和局兩個業(yè)清攝像頭；
8.準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合；
9.儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平臺重復(fù)定位度：小于0.1um；

性能特點

1.的三維移動平臺；
2.的樣品觀測系統(tǒng)；
3.的圖像識別；
4.輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測；
5.四種微孔聚焦準直器，自動切換；
6.雙重保護措施，實現(xiàn)無縫防撞；
7.采用大面積分辨率探測器，有效降低檢出限，提測試度。

安裝要求：

1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

2 環(huán)境相對濕度：<70%

3 作電源：交流220±5V

4 周圍不能有強電磁干擾。