X熒光鍍層測厚儀是通過高壓產(chǎn)生電子流打入到X光管中靶材產(chǎn)生初級X光，初級X光經(jīng)過過濾和聚集射入到被測樣品產(chǎn)生次級X射線，也就是我們通常所說的X熒光，X熒光被探測器探測到后經(jīng)放大，數(shù)模轉(zhuǎn)換輸入到計算機(jī)。計算機(jī)計算出我們需要的結(jié)果。
若產(chǎn)生X-射線熒光是由于轉(zhuǎn)移一個電子進(jìn)入K 軌道，一個K軌道上的電子已事先被游離，另一個電子即代替他的地位，此稱之為K 輻射。不同的能階轉(zhuǎn)換出不同的能量，如Kα輻射是電子由L軌道跳至K軌道的一種輻射，而Kβ輻射是電子從M 軌道跳至K軌道的一種輻射，其間是有區(qū)別的。若X-射線熒光是一個電子跳入L的空軌域，此種輻射稱為L輻射。同樣的L 輻射可劃分為Lα 輻射，此是由M軌道之電子跳入L軌道及Lβ 輻射，此是由N 軌道之電子跳入L 軌道中 。由于Kβ輻射能量約為Kα的11%，而Lβ輻射能量較Lα大約20%，所以以能量的觀點Lα及Lβ是很容易區(qū)分的。 
原子的特性由原子序來決定，亦即質(zhì)子的數(shù)目或軌道中電子的數(shù)目，即如圖所示特定的X-射線能量與原子序間的關(guān)系。K輻射較L輻射能量高很多，而不同的原子序也會造成不同的能量差。 
特定的X-射線可由比例計數(shù)器來偵測。當(dāng)輻射撞擊在比例器后，即轉(zhuǎn)換為近幾年的脈波。電路輸出脈沖高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質(zhì)所發(fā)出的X-射線可由其后的鑒別電路記錄。 
使用X-射線熒光原理測厚，將被測物置于儀器中，使待測部位受到X-射線的照射。此時，特定X-射線將由鍍膜、素材及任何中間層膜產(chǎn)生，而檢測系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)換為成比例的電信號，且由儀器記錄下來，測量X-射線的強(qiáng)度可得到鍍膜的厚度。
X熒光鍍層測厚儀的： 
1、無損、、快速測量各種電鍍層的厚度
2、電鍍層可以是單層/雙層/三層 
3、鍍金/鍍銀/鍍鎳/鍍銅等都可以測量 
4、有電鍍液成份分析以及金屬成份分析等軟件 
5、易操作/易維護(hù) 
6、準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制