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WaveJet 354T示波器,力科WaveJet 354T:7.5英寸的觸摸屏緊湊型設(shè)計特征,方便了便攜式產(chǎn)品觸摸操作的方便性。5 Mpts存儲深度和2 GS/s采樣率,能夠捕獲到波形的每個細(xì)節(jié)并使得測量更加容易。WaveJet Touch讓您以zui小的投資活得了zui大的價值。...
WaveJet Touch的性能特征以及觸摸屏用戶界面簡化了操作和縮短了調(diào)試時間。7.5英寸的觸摸屏緊湊型設(shè)計特征,方便了便攜式產(chǎn)品觸摸操作的方便性。5 Mpts存儲深度和2 GS/s采樣率,能夠捕獲到波形的每個細(xì)節(jié)并使得測量更加容易。WaveJet Touch讓您以zui小的投資活得了zui大的價值。
WaveJet 354T (500 MHz Bandwidth, 4 Input Channels, 5 Mpts/ch, 2 GS/s)
|
Bandwidth |
500 MHz |
|
Single-Shot Sample Rate/Ch |
2 GS/s on 2 Ch |
|
Memory |
5 Mpts/Ch on 2 Ch |
關(guān)鍵特性
· 350 MHz及500 MHz帶寬
· 高達(dá)2 GS/s采樣率
· 長存儲—高達(dá)5 Mpts
· 7.5英寸觸摸屏顯示
· 26個測量參數(shù)
· 回放模式
· 標(biāo)配失敗/通過模板及測試
· 標(biāo)準(zhǔn)I2C,SPI,以及UART串行觸發(fā)
· 標(biāo)準(zhǔn)USB主設(shè)備(host),USB從設(shè)備(Device),GPIB,以及LAN連接
· 多語言用戶界面及幫助文件
· 快的啟動時間
觸摸屏控制
觸摸屏操作簡化了對示波器各個方面的控制,提升了效率,減小了設(shè)置時間。直觀的觸摸控制取代了容易令人混淆的軟導(dǎo)航鍵。
縮短調(diào)試時間
由于能夠進(jìn)行長時間的捕獲,且有多種復(fù)雜的觸發(fā),包括I2C,SPI,UART等協(xié)議觸發(fā),使得復(fù)雜的信號能夠被快速的捕獲。通過/失敗模板及測量測試使得深入分析和執(zhí)行性能特征驗證測試變得更加容易。使用回放模式可以觀察歷史波形。
便攜式性能
小巧輕便的外形設(shè)計使其能夠被更加容易的攜帶到任何地方以及在任何地方使用。快速的啟動時間,使得WaveJet Touch隨時能夠投入使用。WaveJet Touch可以在5秒鐘內(nèi)開機并捕獲信號,確保測量能夠立即展開。
靈活的連接
可直接保存屏幕截圖到U盤或者打印機中實現(xiàn)快速的存檔。標(biāo)準(zhǔn)的GPIB,LAN,以及USB連接使得遠(yuǎn)程控制更加容易。WaveJet可以使用力科的WaveStudio軟件快速的與PC進(jìn)行連接。
長捕獲時間
在長數(shù)據(jù)捕獲時,長存儲對保持高采樣率非常重要。5 Mpts消除了長存儲和高采樣率常需要的折中。長存儲使得WaveJet Touch成為觀察包含低頻和高頻成分信號的理想工具。
觸發(fā)
配置有多種復(fù)雜的觸發(fā),WaveJet Touch能夠非常容易的捕獲復(fù)雜的信號。標(biāo)準(zhǔn)I2C,SPI,以及UART觸發(fā)允許進(jìn)行的協(xié)議層調(diào)試。邏輯碼型觸發(fā)能夠基于示波器四個通道輸入狀態(tài)進(jìn)行觸發(fā)。
通過/失敗測試
波形能夠與模板進(jìn)行比對測試或者測量參數(shù)可以被賦予通過/失敗標(biāo)準(zhǔn)以驗證測試。示波器可以設(shè)置一個通過/失敗狀態(tài)為:停止采集,蜂鳴,保存波形,屏幕捕獲或者輸出一個脈沖到其它儀器上。
波形函數(shù)和分析
函數(shù)操作包括基本的運算功能和FFT,導(dǎo)數(shù),積分功能。函數(shù)可以對基本函數(shù)的結(jié)果進(jìn)行操作。函數(shù)波形的刻度和偏置可以容易的被其專用按鈕進(jìn)行設(shè)置。
數(shù)字濾波
數(shù)字濾波適用于每個通道。低通,高通,以及簡單的移動平均濾波器使得示波器能夠隔離感興趣的頻率。通過在每個通道使用濾波器后,函數(shù)曲線還可以用來對其做進(jìn)一步的分析。
波形回放模式
通過回放模式可以觀察先前的波形并隔離異常。使用光標(biāo)和測量參數(shù)能夠快速的查找到問題的源頭?;胤拍J揭恢碧幱诩せ顮顟B(tài)而不需要擔(dān)心其是否處于打開狀態(tài)。
多采集模式
除了正常的采集模式以外,,峰值檢測,以及平均采集模式使得示波器能夠捕獲更加寬廣范圍內(nèi)的信號類型。100 GS/s的等效時間采樣率允許重復(fù)信號波形能夠被更加的進(jìn)行重建。
自動測量
26種自動化化測量參數(shù)可用來對波形進(jìn)行測量且包括zui大/zui小統(tǒng)計功能。能夠同時顯示四個測量。一次測量所有情況能力使得示波器一次捕獲的波形中的所有事件都能夠被測量。
WaveJet 354T示波器,力科WaveJet 354T:
主要指標(biāo)
|
帶寬 |
350 MHz - 500 MHz |
|
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)存 |
5 Mpts |
|
輸入通道 |
4 |
|
zui高采樣率 |
2 GS/s |
|
垂直分辨率 |
8-bit |
| 邏輯分析儀 |
|
LogicStudio 16 |
| 通用附件 |
|
WJT-RACK |
|
WJT-SOFTCASE |
|
高壓差分探頭
|
|
AP031 |
| 高壓探頭 |
|
PPE1.2KV |
|
PPE2KV |
|
PPE4KV |
|
PPE5KV |
|
PPE6KV |
| 無源探頭 |
|
PP006A |
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