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二探針測(cè)試儀是運(yùn)用二探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,專用于測(cè)試半導(dǎo)體材料縱向電阻率的專用儀器。...
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測(cè)量范圍 |
電阻率:10-5~105 Ω.cm; |
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恒流源 |
電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔,各檔電流連續(xù)可調(diào) |
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數(shù)字電壓表 |
量程及表示形式:000.00~199.99mV; |
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二探針探頭基本指標(biāo) |
間距:3mm(可選其它間距); |
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二探針探頭應(yīng)用參數(shù) |
(見探頭附帶的合格證) |
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模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差 |
0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字 |
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測(cè)試架 |
配置T-2A測(cè)試架,兩端電Ф8mm~20mm(可選其他尺寸訂做) |
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計(jì)算機(jī)通訊接口 |
并口 |
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標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 |
溫度:23±2℃; |
是運(yùn)用二探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,專用于測(cè)試半導(dǎo)體材料縱向電阻率的專用儀器。
儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、二探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
二探針測(cè)試儀 儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。 本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。

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