紅外一氧化碳分析儀是利用紅外光譜分析一氧化碳氣體的方法。它是根據(jù)被分析組分濃度不同而吸收的輻射能不同而產生的輻射能使檢測器內的溫度不同，動片薄膜兩側的壓力也不同，從而產生電容式檢測器的電信號。該方法可以間接地測定被分析組分的濃度。紅外一氧化碳分析儀在測量過程中會遇到不同的環(huán)境而產生誤差。
 
  1、光路干擾：
 
  一臺紅外氣體分析儀在預熱后通入氮氣時，由于切光片的相位不平衡和光路不平衡所致，所以只要調整相位調節(jié)鈕使輸出達到小值，再調整光路平衡鈕使輸出zui變小。然后用零點氣和程氣反復校準儀表的零點和范圍。
 
  2、水分干擾：
 
  如果零點氣體中有水分，通過紅外氣體分析儀進行校準，就會產生負誤差，近紅外區(qū)域，水具有連續(xù)的特征吸收光譜，若零點氣體中含有水分，則會使儀器零位產生負偏移，校準后儀器的示值必然低于實際值，從而產生負誤差。
 
  3、干擾溫度變化：
 
  紅外氣體分析儀需要在恒溫下進行檢測。環(huán)境溫度的變化直接影響到紅外光源的穩(wěn)定性、紅外輻射強度、氣室內連續(xù)流動的氣體密度，進而影響檢測器的正常工作。當溫度超過正常值時，檢測器輸出阻抗會下降，從而使檢測器無法正常工作，甚至損壞檢測器。紅外分析儀一般都有溫度控制和超溫保護電路，即使這樣，某些儀器特別是微量分析儀也能觀察到環(huán)境溫度的變化，特別是夏季高溫環(huán)境下的溫度變化。這種情況下，需要改變環(huán)境溫度，設置空調是解決問題的方法之一。
 
  4、大氣壓波動干擾：
 
  大氣壓力在同一天內甚至在同一地區(qū)也會發(fā)生變化。若天氣突變，其變化幅度較大。大氣壓力的變化直接影響到氣體放空速度。在測量氣室后直接放空的氣體樣品，由于大氣壓力的變化，使氣室內的氣體密度發(fā)生變化，從而產生附加誤差。