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桂林電子科技大學(xué)咨詢采購JKZC-YDZK03A壓電阻抗綜合測試系統(tǒng)一套
發(fā)布時間:2022-07-15瀏覽次數(shù):1136返回列表
桂林電子科技大學(xué)咨詢采購JKZC-YDZK03A壓電阻抗綜合測試系統(tǒng)一套
近日,桂林電子科技大學(xué)咨詢采購JKZC-YDZK03A壓電阻抗綜合測試系統(tǒng)一套,是一款多用途的綜合測試系統(tǒng),即可用于縱向壓電D33測試,豎向D15,橫向D31等性能測試,也可以用于用于用于鐵電晶體、壓電陶瓷、壓電晶體、超聲波換能器等器件的阻抗分析與測試,是對壓電器件和設(shè)備進(jìn)行頻率掃描和阻抗測量分析的超值解決方案,可以快捷方便地測試壓電器件的各項(xiàng)參數(shù)特性,正反諧振阻抗及壓電材料的電容等相關(guān)系數(shù),是研究壓電材料和阻抗分析的綜合設(shè)備,是科研的重要輔助設(shè)備。
二、主要技術(shù)參數(shù):
頻率:10HZ-30MHZ
測試電平:AC: AC電壓:5mV - 2Vrms ,分辨率:1mV, DC:±40V,分辨率:1mV
測試參數(shù):Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc
顯微鏡:630萬像素,偏光觀察模式
薄膜平臺:30*30MM樣品臺,探針連接
×1擋:10到2000pC/N,20 至4000pC/N,可以升級到10000PC/N.
×0.1擋: 1到200pC/N,2 至400pC/N。
可以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化裝置使用
可以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機(jī)使用
誤差:×1擋:±2%±1個數(shù)字,當(dāng)d33在100到4000pC/N;
計量標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)樣尺寸:18mm*0.8mm,老化時間:2-3年(評判壓電測試儀準(zhǔn)確性能的重要依據(jù)之一)
提供壓電薄膜標(biāo)準(zhǔn)片:20*20MM
電壓保護(hù):獨(dú)有的放電保護(hù)功能
±5%±1個數(shù)字,當(dāng)d33在10到200pC/N;
×0.1擋:±2%±1個數(shù)字,(當(dāng)d33在10到200pC/N)
±5%±1個數(shù)字,當(dāng)d33在10到20pC/N。
分辨率: ×1擋:1 pC/N;×0.1擋:0.1 pC/N。
尺寸:施力裝置:Φ110×140mm;儀器本體:240×200×80mm。








